Belec IN-Spect 高精度式光谱仪
•采用蔡司制造的3600刻线/mm高精度光栅
•火花台内的透镜无需清洁(免维护)
•低损耗钨电极(不需要更换,也不需要重新打磨),一个电极可用于多种基体
•高品质CCD,能分析宽阔波长的成份含量
•成熟的CCD光谱室,对于所有基体具有稳定的检测结果,
如:Fe、Ni、Cu、Al、Zn、Pb 等
•元素数量不限
•分析程序数量不限
•可分析如Li、Na、K、N等特殊元素
•采用具有多个参考元素信道的MCDC(多矩阵通道漂移校正)能长期保持稳定
•独特的曲面镜设计,聚焦光线能覆盖单个CCD整个表面
•双光谱分析仪
•不需要抽真空,也不需要进行光室的维护
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